Subject: [Depfis] Conferencia IEEE

From: Área de Difusión DF, FCEyN, UBA<[email-masked]>
Date: Wed, 8 Aug 2007 10:47:50 -0300 (ART)

CAPITULO ARGENTINO DE LA IEEE ELECTRON DEVICES SOCIETY (en formación)

Conferencia

"Ruptura del aislante de puerta en estructuras MOS: modelos físicos y 
aplicaciones"

Dr. Enrique Miranda

Conferencista Distinguido de la EDS.

Dirigido a: Profesionales y estudiantes interesados en temas
electrónica, microelectrónica y física de los semiconductores.

Más info: ver archivo adjunto.

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Área de Difusión,
Departamento de Física Juan José Giambiagi,
FCEyN, UBA.