[Todos] First Latin American Workshop on Electron Microscopy: Material and Life Sciences, Microelectronics and E-Beam Lithography
lia en df.uba.ar
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Vie Jun 20 02:02:14 ART 2008
Estimado Colega:
Es muy grato para nosotros invitarlo al 'First Latin American
Workshop on Electron Microscopy: Material and Life Sciences,
Microelectronics and E-Beam Lithography" a llevarse a cabo el 30 de
junio y 1º de julio en Centro de Convenciones Salguero Plaza, sito en
Jerónimo Salguero 2686, Buenos Aires. El mismo está organizado por el
Centro de Microscopías Avanzadas (FCEyN-UBA) y cuenta con el
patrocinio de la firma Carl Zeiss NST/Alemania.
Los objetivos del evento son i) promover el encuentro de
microscopistas, investigadores y estudiantes de distintas partes del
país y de la región, ii) intercambiar experiencias y discutir sobre
los últimos avances tecnológicos de la microscopía electrónica en las
áreas de instrumentación y métodos, aplicaciones en las ciencias
biológicas y de los materiales, iii) fortalecer la cooperación entre
los participantes, y iv) promover la creación de una red que permita
conectar a los distintos grupos de trabajo y facilite la difusión y la
coordinación de actividades. El programa del workshop consta de
diecisiete exposiciones orales y una mesa redonda de discusión sobre
el tema 'Nanotecnología: un desafío en Argentina' (ver archivo
adjunto).
La entrada es libre y gratuita. La inscripción es electrónica a
través de nuestra página web www.lawem08.com.ar. Esperamos su
colaboración en la difusión de la reunión.
Será un gusto contar con su presencia. Lo esperamos.
Un saludo cordial,
Centro de Microscopías Avanzadas (FCEyN-UBA)
Carl Zeiss NTS/Alemania
Dra. Lía Pietrasanta
Centro de Microscopías Avanzadas
Facultad de Ciencias Exactas y Naturales-UBA
Pabellón I- Ciudad Universitaria
C1428EHA Buenos Aires
Argentina
Tel.: 54 11 4576 3390 ext. 807
FAX: 54 11 4576 3426
E-mail: lia en df.uba.ar
http://www.cma.fcen.uba.ar
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Nombre : LAWEM08_programa.pdf
Tipo : application/pdf
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Descripción: no disponible
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