[Todos] HOY 14HS AULA FEDERMAN ULTIMO SEMINARIO DE LA HUMANIDAD
admedus en df.uba.ar
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Jue Dic 20 09:42:06 ART 2012
Hola:
       El motivo del mail es recordarles la charla que dará
Alejandro Strachan hoy jueves 20/12 a las 14hs en el aula Federman.
Aprovechen para asistir porque puede ser la última charla antes del fin
del mundo. Habrá café del fin del mundo pero no habrán vasos
descartables porque queremos cuidar el medioambiente por si acaso no se
terminara el mundo.
Saludos cordiales,
                                         Â
A.
A continuación va el tÃtulo y resumen de la charla:
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Â
MODELADO DE MEMS DESDE PRIMEROS PRINCIPIOS CON CUANTIFICACIóN DE
INCERTIDUMBRE
  Â
/ALEJANDRO STRACHAN/
 School of Materials Engineering and Birck Nanotechnology Center
 Purdue University, West Lafayette, Indiana, USA
JUEVES 20/12Â 14 HS AULA FEDERMAN
 En esta charla presentare un modelo multiescala para predecir el
comportamiento y degradación de un micro-switch para radio frecuencias
desarrollado por el /Center for the Prediction of Reliability, Integrity
and Survivability of Microsystems/ (PRISM) en la Universidad de Purdue.
El
sistema de interés es un switch de contacto actuado electrostáticamente
y
su comportamiento esta gobernado por procesos fÃsicos acoplados que
involucran: mecánica del sólido, dinámica de fluÃdos, contacto entre
superficies con asperezas en nanoescala y cargas atrapadas en materiales
dieléctricos. Describimos el dispositivo en términos de su composición
quÃmica, nanoestructura y geometrÃa usando redes de Bayes para
cuantificar y propagar incertidumbre a través de escalas y procesos
fÃsicos. Las simulaciones a nivel del sistema son informadas por una
combinación de: i) predicciones de primeros principios; ii) mediciones
experimentales directas; and iii) experimentos de calibración; y
predicen
el comportamiento del sistema y la degradación de sus propiedades. La
presentación se centrara en establecer la conexión entre procesos
electrónicos y atómicos y las propiedades del sistema. En particular
describiré cálculos de estructura electrónica que permiten entender y
cuantificar la captura de carga por parte de materiales dieléctricos
amorfos y simulaciones de dinámica molecular para caracterizar las
propiedades mecánicas de asperezas a nanoescala.
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