<div dir="ltr"><p class="MsoNormal" align="center" style="margin:0cm 0cm 0.0001pt;text-align:center;line-height:normal;font-size:12pt;font-family:Arial,sans-serif"><span style="font-family:Arial,Helvetica,sans-serif;font-size:small;text-align:start;background-color:rgb(255,255,0)"><b>Debido al paro del lunes, el seminario de INQUIMAE-DQIAQF de este lunes se pasa al jueves 20. Como siempre, en el Aula Roberto Fernández Prini, a las 13 horas. </b></span></p><p class="MsoNormal" align="center" style="margin:0cm 0cm 0.0001pt;text-align:center;line-height:normal;font-size:12pt;font-family:Arial,sans-serif"><span style="font-family:Arial,Helvetica,sans-serif;font-size:small;text-align:start;background-color:rgb(255,255,0)"><b>El expositor, Dr. Diego Lamas, aceptó el cambio, lo cual se agradece desde la Comisión de Seminarios y las autoridades del DQIAQF-INQUIMAE.</b></span><b><span lang="ES-AR"></span></b></p><p class="MsoNormal" align="center" style="margin:0cm 0cm 0.0001pt;text-align:center;line-height:normal;font-size:12pt;font-family:Arial,sans-serif"><b><span lang="ES-AR"><br></span></b></p><p class="MsoNormal" align="center" style="margin:0cm 0cm 0.0001pt;text-align:center;line-height:normal;font-size:12pt;font-family:Arial,sans-serif"><b><span lang="ES-AR"><br></span></b></p><p class="MsoNormal" align="center" style="margin:0cm 0cm 0.0001pt;text-align:center;line-height:normal;font-size:12pt;font-family:Arial,sans-serif"><br></p><p class="MsoNormal" align="center" style="margin:0cm 0cm 0.0001pt;text-align:center;line-height:normal;font-size:12pt;font-family:Arial,sans-serif"><br></p><p class="MsoNormal" align="center" style="margin:0cm 0cm 0.0001pt;text-align:center;line-height:normal;font-size:12pt;font-family:Arial,sans-serif"><b><span lang="ES-AR"><br></span></b></p><p class="MsoNormal" align="center" style="margin:0cm 0cm 0.0001pt;text-align:center;line-height:normal;font-size:12pt;font-family:Arial,sans-serif"><b><span lang="ES-AR">Equipamiento para dispersión y difracción de rayos X a ángulos bajos, ultrabajos e intermedios (SAXS/USAXS/WXAS) del Laboratorio de Cristalografía Aplicada del instituto ITECA, UNSAM-CONICET</span></b></p><p class="MsoNormal" style="margin:0cm 0cm 0.0001pt;text-align:justify;line-height:normal;font-size:12pt;font-family:Arial,sans-serif"><span lang="ES-AR" style="font-size:11pt"> </span></p><p class="MsoNormal" align="center" style="margin:0cm 0cm 0.0001pt;text-align:center;line-height:normal;font-size:12pt;font-family:Arial,sans-serif"><a name="m_2177554134575520139__heading=h.qvwaf6lb6x1m"></a><i><span lang="ES-AR" style="font-size:11pt">Diego G. Lamas</span></i></p><p class="MsoNormal" style="margin:0cm 0cm 0.0001pt;text-align:justify;line-height:normal;font-size:12pt;font-family:Arial,sans-serif"><span lang="ES-AR" style="font-size:11pt"> </span></p><p class="MsoNormal" align="center" style="margin:0cm 0cm 0.0001pt;text-align:center;line-height:normal;font-size:12pt;font-family:Arial,sans-serif"><span lang="ES-AR" style="font-size:11pt">Laboratorio de Cristalografía Aplicada, Instituto de Tecnologías Emergentes y Ciencias Aplicadas (ITECA), UNSAM-CONICET, San Martín Pcia de Buenos Aires, Argentina.</span></p><p class="MsoNormal" align="center" style="margin:6pt 0cm 0.0001pt;text-align:center;line-height:normal;font-size:12pt;font-family:Arial,sans-serif"><a name="m_2177554134575520139__heading=h.gr3y7x4s91up"></a><span lang="ES-AR" style="font-size:11pt">E-mail: </span><span lang="ES-AR"><a href="mailto:dlamas@unsam.edu.ar" target="_blank" style="color:rgb(70,120,134)"><span style="font-size:11pt;color:windowtext;text-decoration-line:none">dlamas@unsam.edu.ar</span></a></span><span lang="ES-AR" style="font-size:11pt"></span></p><p class="MsoNormal" style="margin:0cm 0cm 0.0001pt;text-align:justify;line-height:normal;font-size:12pt;font-family:Arial,sans-serif"><span lang="ES-AR" style="font-size:11pt"> </span></p><p class="MsoNormal" style="margin:0cm 0cm 0.0001pt;text-align:justify;line-height:normal;font-size:12pt;font-family:Arial,sans-serif"><a name="m_2177554134575520139__heading=h.6o53aenwy4yn"></a><b><span lang="ES-AR" style="font-size:11pt">RESUMEN</span></b></p><p class="MsoNormal" style="margin:0cm 0cm 0.0001pt;text-align:justify;line-height:normal;font-size:12pt;font-family:Arial,sans-serif"><span lang="ES-AR" style="font-size:11pt"> </span></p><p class="MsoNormal" style="margin:0cm 0cm 0.0001pt;text-align:justify;line-height:normal;font-size:12pt;font-family:Arial,sans-serif"><span lang="ES-AR" style="font-size:11pt">En abril de 2019 se inauguró el Laboratorio de Cristalografía Aplicada (LCA) en el ámbito de la Escuela de Ciencia y Tecnología (ECyT) de la Universidad Nacional de San Martín (UNSAM) y rápidamente abrió sus puertas a la comunidad científica y a la industria al incorporase al Sistema Nacional de Rayos X del ex MinCyT. Posteriormente, se sumó al nuevo Instituto de Tecnologías emergentes y Ciencias Aplicadas (ITECA), unidad ejecutora de doble dependencia de UNSAM-CONICET creada en 2020.</span></p><p class="MsoNormal" style="margin:6pt 0cm 0.0001pt;text-align:justify;line-height:normal;font-size:12pt;font-family:Arial,sans-serif"><span lang="ES-AR" style="font-size:11pt">El LCA cuenta con un difractómetro de rayos X de polvos modelo Empyrean de la empresa Malvern Panalytical y un equipo de dispersión de rayos X a bajo ángulo y ultra bajo ángulo (SAXS-USAXS), modelo XEUSS 2.0 de la empresa XENOCS. Este último equipo cuenta demás con un segundo detector que mide a ángulos intermedios (WAXS) en forma simultánea con el detector de SAXS-USAXS, lo que permite hacer estudios a distintas escalas de distancias. El mismo es el segundo equipo en América Latina con la capacidad de hacer estudios a ángulos ultra bajos (el primero en instalarse está en el Instituto de Física de la Universidad de San Pablo en la ciudad de San Pablo, Brasil).</span></p><p class="MsoNormal" style="margin:6pt 0cm 0.0001pt;text-align:justify;line-height:normal;font-size:12pt;font-family:Arial,sans-serif"><span lang="ES-AR" style="font-size:11pt">En esta charla, se presentarán los fundamentos básicos y principales aplicaciones de las técnicas de SAXS/USAXS/WAXS, abarcando tanto sistemas sólidos como líquidos o geles, incluyendo nanomateriales con distintas morfologías, fármacos, materiales porosos, proteínas en solución, polímeros, cremas, sistemas grasos, etc. Se darán ejemplos de trabajos realizados con distintas configuraciones para mostrar la versatilidad del equipo disponible en el LCA. Además, se destacará que dicho equipo permite hacer estudios de difracción a ángulos bajos y ultra bajos con alta resolución, muy superior a la que se logra en un difractómetro de polvos convencional, y se comentará el impacto que tiene esta posibilidad para diversas aplicaciones.</span></p><p class="MsoNormal" style="margin:0cm 0cm 0.0001pt;text-align:justify;line-height:normal;font-size:12pt;font-family:Arial,sans-serif"><a name="m_2177554134575520139__heading=h.u771bs7pke4h"></a><span lang="ES-AR" style="font-size:11pt"> </span></p></div>